1 新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50 nm) 2 質量分辨率 > 30,000 3 獨特的延遲提取模式可同時實現高傳輸，高橫向質量 4 廣域的動態范圍和檢測限 5 用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS 6 先進智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括完全集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包 7 新型靈活按鈕式閉環樣品加熱和冷卻系統，可長期無人值守運行

?TESCAN SOLARIS 的 Triglav? 型 SEM 鏡筒具有超高的分辨率，特別是在低電壓下；鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力，為獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度翻開了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage? 型 FIB 鏡筒保證了出色的低電壓離子束分辨率和微加工性能，可以滿足制備小于 20 nm 的、Z佳質量的半導體器件超薄 TEM 樣品的需要。此外，高達 100 nA 的大離子束流可以對生物樣品和材料進行指定位置的、大體積 FIB-SEM 逐層掃描，圖像也具有出色的襯度。

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結構信息。