邀請函 | Tescan 首次以全新面貌參展2025年全國電子顯微學學術年會
Tescan 全新面貌奔赴
2025年全國電子顯微學學術年會
Tescan 將以全新面貌參展2025年全國電子顯微學學術年會。并帶來兩個分會報告,介紹 Tescan FIB-SEM 與4D-STEM 材料科學新技術、應用案例與解決方案。
2025.9.26-30 武漢
展臺號:# 5-6
今年看點
Tescan 在中國首次發布
全新品牌形象與品牌理念
2025年9月26-30日,中國武漢 —— Tescan 集團將在 2025 年全國電子顯微學學術年會上首次向中國觀眾展示其全新的品牌形象與理念 “Accelerating the Art of Discovery”(加速發現的藝術),開啟在華發展的新紀元。
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分會報告
報告題目
Tescan FIB-SEM 技術
的最新進展
第八分會場
聚焦離子束在材料學中的應用
報告概述:本報告重點介紹 Tescan 新一代氙氣等離子FIB的最新進展,包括全新的Mistal等離子鏡筒增強離子束性能,保證加工質量下提高加工效率;基于AI優化的全自動TEM樣品制備;集成Ar離子拋光獲得理想的TEM樣品;以及樣品綜合分析信息最全面的3D重構。
報告題目
拓展STEM的維度:旋進輔助、EDS集成、AI增強的4D STEM
第一分會場
顯微學理論、儀器方法與技術
報告概述:4D STEM 是電子顯微學的最前沿方向之一。相比傳統的 STEM,4D STEM可以額外獲得關于材料結晶程度、物相、取向、應變、內建電場分布等信息。
Tescan 公司推出世界上首臺 4D STEM 電鏡——TENSOR。這是一臺針對衍射分析設計的電鏡,一體集成的設計和AI輔助的合軸讓用戶可以實現零門檻的使用和操作,極大提升工作效率。
這次電鏡會,我們將介紹 TENSOR 前沿表征能力,尤其適合感興趣 4D STEM 技術和衍射研究的科學家和工程師們關注。
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報名截止:
2025年9月28日12:00
資料發送時間:
最遲2025年9月29日
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