BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano Zeta 電位分析儀
BeNano 180 納米粒度儀
產品介紹
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。
基本性能指標
Zata電位測試
| 原理 | 相位分析光散射技術 |
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μm.cm/V.s |
電導率范圍 | 0-260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 120 μm |
樣品量 | 0.75 mL – 1.0 mL |
趨勢測試
| 時間和溫度 |
系統參數
溫控范圍 | -15℃-110℃，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關器 | ≤ 4000通道，1011動態線性范圍 |
檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | ?符合21CFR Part 11 |
檢測參數
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
檢測技術
●電泳光散射
●相位分析光散射
報價：面議
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報價：面議
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報價：面議
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BT-Online2在線粒度監測與控制系統由測試主機、電腦、取樣系統、回收系統、電路與氣路控制系統、機柜等部分組成。系統可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結果等。通過設定 SOP 流程系統可在無人值守狀態下自動運行。它在數據異常時系統會自動報警提示，在研磨設備具有信息化控制終端時，本系統還可對研磨系統實施控制，實現粒度監測與控制同步，保證產品粒度穩定。
BT-Online1A在線粒度監測與控制系統由測試主機、電腦、取樣系統、回收系統、電路與氣路控制系統、機柜等部分組成。系統可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結果等。通過設定 SOP 流程系統可在無人值守狀態下自動運行。它在數據異常時系統會自動報警提示，在研磨設備具有信息化控制終端時，本系統還可對研磨系統實施控制，實現粒度監測與控制同步，保證產品粒度穩定。
BT-Online1是一種安裝在生產現場、與粉體生產設備直接相連、實時進行粒度監測與控制的在線粒度監測與控制系統。常規系統由主機、自動取樣器、鏡頭防護系統、樣品回收系統、控制系統和軟件組成。特殊系統有防爆型、一拖二型、一拖三型和一拖四型等。
BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。 該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可 廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的 基礎研究和質量分析與控制。
BeNano 180 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
營業執照已審核
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滬公網安備 31011502008050號