BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
BeNano Zeta 電位分析儀
BeNano 180 納米粒度儀
產品介紹
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年推出的表征納米體系特性的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、及顆粒物濃度信息等等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。
基本性能指標
粒徑檢測(動態光散射法)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
| 最小樣品量 | 3 μL |
| 檢測角度 | 173 °+90 ° + 12° |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
沉降法粒度測試
| 檢測方法 | 沉降法 |
| 粒徑范圍 | 1μm-50μm |
| 檢測角度 | 0° |
| 樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測試
| 檢測角度 | 12° |
| Zeta范圍 | 無實際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量 |
趨勢測試
| 模式 | 時間和溫度 |
濃度檢測
| 檢測方法 | LEDLS |
| 測試能力 | 體積分數和數量濃度 |
折光率測試
| 檢測方法 | 楔形池樣品折射（無需示蹤粒子） |
| 檢測角度 | 0° |
| RI范圍 | 1.2-1.6 |
| 精度 | 優于0.1% |
| 最小樣品量 | 380 μL |
系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 相關器 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
| 電泳遷移率范圍 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
| 檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管）+PD+CMOS |
| 光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
檢測參數
動態光散射
●流體力學尺寸 Dh
●分布系數 PD.I
●擴散系數 D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測試
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態光散射
● 分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數A2
選配件
●動靜態流動模式
BeNano動靜態流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環境具有強烈的依賴性，尤其是環境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險。
●BeScan穩定性分析儀
BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化，并給出不穩定性指數IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
報價：面議
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BeScan Lab穩定性分析儀是丹東百特公司研制的基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備。
背向 +90°散射粒度?+Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型
BetterPyc 380 多功能真密度儀由丹東百特儀器有限公司研制，并配套電腦端操作軟件 EasyPyc，用于測試樣品的體積、密度、固含量及開孔率，具有多功能性、自動化程度高、操作便捷、速度快、精度
BT-Online2在線粒度監測與控制系統由測試主機、電腦、取樣系統、回收系統、電路與氣路控制系統、機柜等部分組成。系統可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結果等。通過設定 SOP 流程系統可在無人值守狀態下自動運行。它在數據異常時系統會自動報警提示，在研磨設備具有信息化控制終端時，本系統還可對研磨系統實施控制，實現粒度監測與控制同步，保證產品粒度穩定。
BT-Online1A在線粒度監測與控制系統由測試主機、電腦、取樣系統、回收系統、電路與氣路控制系統、機柜等部分組成。系統可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結果等。通過設定 SOP 流程系統可在無人值守狀態下自動運行。它在數據異常時系統會自動報警提示，在研磨設備具有信息化控制終端時，本系統還可對研磨系統實施控制，實現粒度監測與控制同步，保證產品粒度穩定。
BT-Online1是一種安裝在生產現場、與粉體生產設備直接相連、實時進行粒度監測與控制的在線粒度監測與控制系統。常規系統由主機、自動取樣器、鏡頭防護系統、樣品回收系統、控制系統和軟件組成。特殊系統有防爆型、一拖二型、一拖三型和一拖四型等。
BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。 該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可 廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的 基礎研究和質量分析與控制。
BeNano 180 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
營業執照已審核
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滬公網安備 31011502008050號