背向 +90°散射粒度?+Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型

BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向...

BeNano 180 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 EL...

BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過...

BeNano 180 納米粒度儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 1...

BeNano 90 納米粒度儀是基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在 90°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的...