產品介紹:
RISE電鏡-拉曼一體化系統是一款新穎的顯微鏡技術,在一個集成的顯微鏡系統中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術,這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征,提供了明顯的優勢。
掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內樣品表面結構的可視化技術,而共焦拉曼成像是表征樣品化學和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統還可以同時得到樣品的2D、3D圖像,以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結果。
引領變革 全方位拓展分析
RISE Microscopy是一款創新性的產品,是世界上di一臺真正實用化的掃描電鏡-拉曼光譜儀聯用系統。通過實現原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以極大的拓展分析應用,在有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域作出重大突破。
目前,RISE電鏡-拉曼一體化系統在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫學、生命醫藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。
無論您是怎樣的客戶 RISE顯微鏡都適合您
作為掃描電鏡用戶,您將會受益于拉曼光譜分析與掃描電鏡成像技術結合的優勢。RISE顯微鏡采用平行軸設計,使得電鏡的各種探測器和附件(如BSE, CL, EDS等)在聯用系統中都可以配置使用。
作為拉曼光譜用戶,您將會體驗到掃描電鏡與拉曼光譜聯用分析的拓展性和易用性。傳統的拉曼光譜儀由于沒有光學物鏡,分辨率受限于激光束斑大小,難以達到理論上的衍射極限,處于幾個μm的水平。而RISE顯微鏡不但擁有高數值孔徑的光學物鏡聚焦激光束斑,還能夠通過束斑的掃描運動來進行成像,zui終的拉曼圖像分辨率突破了傳統的衍射極限,達到了360nm(532nm激光)。
定制化系統功能:
q 平行軸式設計,保證樣品臺分別在電子束和激光束下的jing準定位
q 基于TESCAN超大樣品倉定制,擁有豐富的接口和極強的承高承重能力
q 同時具備電鏡和光鏡,配合X-Position功能,實現和任意光學照片及Mapping數據的聯用
q 可集成電鏡的各種探測器和分析附件,進一步拓展分析應用
q 點、線、面的拉曼成像分析,疊加圖像能夠提供極其豐富的數據信息
q 突破傳統的衍射極限,拉曼圖像分辨率可達360nm (532nm激光)
q 共聚焦功能實現光學物鏡的三維逐層掃描,進行三維拉曼光譜成像
q 聯用系統的掃描電鏡部分和拉曼光譜儀部分可完全獨立使用
q 聯用系統可以集成在TESCAN任意掃描電子顯微鏡產品
無論哪個領域 RISE顯微鏡都會給您提供獨特的方案
RISE電鏡-拉曼一體化系統特別適合于有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域的分析應用。目前,RISE顯微鏡在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫學、生命醫藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。
碳材料
有機材料
二維材料
無機材料
共聚焦分析
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報價:面議
已咨詢4776次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
報價:¥4500000
已咨詢236次SEM 掃描電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢6965次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢5007次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
報價:面議
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報價:面議
已咨詢161次顯微鏡
報價:面議
已咨詢5106次掃描電鏡/掃描電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢4761次聚焦離子束顯微鏡
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現數據采集。可用于鋼鐵等工業材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途(如微觀結構控制:用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產品品質)選擇適合的產品。
1波長范圍:400 - 1000 nm 2每一像素同時檢測時間(ToA)和強度(ToT)3時間分辨率1.6 ns,有效幀速率> 500 MHz 4無損、數據驅動讀出速度高達80 Mhits / s
高性能電子光學系統 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)* 高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強的低加速電壓性能,低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微區分析 性能優異 壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)* 開倉室快速簡單換樣(Z大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH) 微區分析: EDS, WDS, EBSD等等
ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。