儀器簡介：

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場發射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業的應用。TESCAN的獨特技術是基于一個完全集成的EDX系統，能以非常快的速度執行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實現了以前所未有的采集速度完全自動化的數據采集，并得到快速、準確和可靠的結果。

最重要的特性：

u 通過高水平的SEM和EDX硬件集成實現了快速、完全自動化的數據采集；

u 基于MIRA SEM平臺；

u 新設計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標準和法拉第杯；

u 根據客戶的需求更改樣品的尺寸；

u 最多集成4個EDX探測器確保系統的性能zui高；

u 新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩定性；

u 改進的方法使數據分析既快又可靠；

u 根據樣品的每個部分可調整掃描和EDX分析的時間；

u 離線數據處理；

u 各種各樣的數據分析模塊；

u 可自定義的分類規則；

u 可定制的解決方案。

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于一個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了前所未有的數據采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。

大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑zui大為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。

配件：

• 二次電子探頭

• 背散射電子探頭

• 探針電流測量

• 壓差式防碰撞報警裝置

• 可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇