產(chǎn)品介紹:
Innova-IRIS 結(jié)合了業(yè)界領(lǐng)先性能的AFM和布魯克專 利的針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)探頭,能提供一整套完備、有保障的TERS解決方案。它與 Renishaw inVia 顯微拉曼系統(tǒng)完 美融合,組成一個(gè)高效且完全集成的測(cè)量平臺(tái),同時(shí)保留了每個(gè)獨(dú)立組件的功能, 可用于微、納米尺度各類(lèi)性質(zhì)成像,可將 AFM 的應(yīng)用擴(kuò)展到納米光譜及納米化學(xué)分析領(lǐng)域。
聯(lián)合
原子力顯微鏡和拉曼顯微鏡
提供高性能的TERS和完整的SPM功能。
專屬
TERS 探頭
零光譜干擾,實(shí)現(xiàn)高空間分辨率成像和高性能TERS功能。
優(yōu)化
硬件和軟件
降低傳統(tǒng)TERS操作的復(fù)雜性。
特征
專為T(mén)ERS設(shè)計(jì)
文獻(xiàn)研究表明光路離軸反射結(jié)構(gòu)是充分考慮探針尖 端陰影和極化效應(yīng)條件下,實(shí)現(xiàn)最 大光捕獲的最 佳解決方案。Innova-IRIS 采用新型光學(xué)架構(gòu),激發(fā)光從探頭的正面進(jìn)入探針-樣品交匯點(diǎn),提供了理想的無(wú)障礙物光學(xué)路徑。
布魯克創(chuàng)新的樣品掃描 AFM 結(jié)合Renishaw InVia 顯微拉曼系統(tǒng),通過(guò)聯(lián)合研發(fā)設(shè)計(jì),在掃描過(guò)程中集成了獨(dú)特的光學(xué)"熱點(diǎn)"跟蹤方式,在拉曼較長(zhǎng)信號(hào)積分時(shí)間內(nèi),可以保持探針的完整性和精確定位,能滿足TERS成像的嚴(yán)苛要求。
關(guān)聯(lián)的互補(bǔ)數(shù)據(jù)
使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系統(tǒng)獲取的石墨烯AFM 形貌(左)和拉曼化學(xué)成像(右圖)。
Innova-IRIS 與 Renishaw InVia 的集成完全保留了 AFM 和拉曼顯微鏡的全部功能。單獨(dú)使用時(shí),可以采用相對(duì)各自獨(dú)立的實(shí)時(shí)控制和數(shù)據(jù)分析軟件。通過(guò)系統(tǒng)集成,可實(shí)現(xiàn)互補(bǔ)的納米級(jí)形貌、熱、電學(xué)和力學(xué)信息測(cè)量的整合。
應(yīng)用
最 優(yōu)的TERS應(yīng)用
不透明樣品TERS系統(tǒng)的光學(xué)配置示意圖。
Innova-IRIS優(yōu)化的TERS光路方案。
透明樣品TERS系統(tǒng)的光學(xué)配置示意圖。
TERS 操作中的同步光學(xué)CCD (AFM和拉曼)。
CVD生長(zhǎng)石墨烯的針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS),顯示了在 10 nm尺度G 和 2D band 強(qiáng)度的變化。圖片由Renishaw公司提供。
Au基底上孔雀石綠的TERS光譜, Innova - IRIS與Renishaw inVia聯(lián)合平臺(tái)獲得。
使用 Innova-IRIS TERS探針獲取的Nile Blue 薄膜的TERS光譜。
使用Catalyst-IRIS獲取的Cresyl Blue TERS光譜,TERS增強(qiáng)因子約 99。 激發(fā)波長(zhǎng) 532nm,能量 64 μW。
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1328次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報(bào)價(jià):¥500000
已咨詢270次SPM/AFM 掃描探針原子力顯
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1483次激光拉曼光譜儀( Raman )
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1224次激光拉曼光譜儀( Raman )
報(bào)價(jià):面議
已咨詢4877次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報(bào)價(jià):¥500000
已咨詢210次激光拉曼光譜(RAMAN)
報(bào)價(jià):面議
已咨詢1484次報(bào)價(jià):面議
已咨詢1979次掃面探針顯微鏡SPM
Park NX-Hivac通過(guò)為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來(lái)提高測(cè)量敏感度以及原子力顯微鏡測(cè)量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比,高真空測(cè)量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級(jí)表面粗糙度測(cè)量,晶圓的表面粗糙度對(duì)于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的,對(duì)于先進(jìn)的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對(duì)晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對(duì)于工程師來(lái)說(shuō),識(shí)別介質(zhì)/平面基底的納米級(jí)缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過(guò)程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動(dòng)缺陷識(shí)別,通過(guò)與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測(cè)效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動(dòng)原子力顯微鏡系統(tǒng),專為垂懸輪廓、高分辨率側(cè)壁成像和臨界角的測(cè)量而設(shè)計(jì)。
CSI是一家法國(guó)科學(xué)設(shè)備制造商,擁有專業(yè)的AFM設(shè)計(jì)概念,以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計(jì)選項(xiàng)。它避免了激光對(duì)準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng),針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖,結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng),使預(yù)先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時(shí)提供原子力顯微鏡成像和納米機(jī)械測(cè)量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn),可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實(shí)時(shí)觀察納米級(jí)力的相互作用,與常規(guī)SEM/FIB兼容,