產品介紹:
NanoWizard? 4 XP BioScience
NanoWizard? 4 XP生物型原子力顯微鏡在一個系統中可提供原子分辨率,高達150行/秒的快速掃描以及100μm大掃描范圍。即使置于倒置光學顯微鏡上,對從單分子到活細胞和組織的樣品進行長期實驗,其具有優異的機械和熱穩定性。
極 致性能高分辨成像
NanoWizard 4 XP生物型原子力顯微鏡系統配備了一系列新功能,包括:
PeakForce Tapping? 技術,輕松實現成像
Fast Scanning 快速掃描選項,最 高可達每秒150行
NestedScanner嵌套掃描技術,實現超高速成像。分辨率和穩定性出眾,可成像垂直方向高達16.5微米的表面結構
新的Tiling Functionality拼接功能,可自動大樣品區域成像
V7軟件,擁有基于工作流程的革命性用戶界面
DirectOverlay? 2 軟件,用于與先進的熒光顯微鏡平臺,進行完 美的數據集成和關聯
Vortis? 2 控制器,實現高速信號處理和最 低噪音水平。
TAE緩沖液中吸附在10mM MgCl2修飾的云母上定制的DNA折紙框架。樣品由布魯塞爾自由大學的R. Willaert提供。掃描區域:125nm,高度范圍: 4.4nm,掃描速率:每秒150行。
利用新的Tiling功能對大樣品區域進行自動化分析
利用HybridStage?或機動精密樣品臺可以直接進入一個大的樣品區,自動地、機動地移動到選定的位置、網格和制圖區域。
從DirectOverlay 2光學校準開始,然后選擇一個區域進行光學拼接,大小可達數毫米。
精確運動的馬達會自動將整個樣品帶入視野,很容易選擇區域和特征進行進一步研究。一次點擊就可以從一個點導航到另一個點,或者利用MultiScan實驗在選定的點上自動進行一系列的測量。
在37°C的PetriDishHeater?中,細胞培養液中的活體Vero細胞圖。630 μm×450 μm區域的5×6相襯圖像的光學拼接。使用PeakForce Tapping對選定區域進行AFM形貌掃描, 100 μm×100μm的掃描(高度范圍5μm)和15 μm×15μm(高度范圍2μm)。反饋校正信號圖像突出了表面膜的特征,特別是在放大的圖像中。微絨毛在細胞中心占主導地位,在細胞邊界有膜褶皺。
與光學顯微鏡完 美集成,提供真正的關聯顯微學
NanoWizard 4 XP具有獨特的針尖掃描技術和快速成像能力,是利用AFM和超分辨率顯微鏡之間協同作用的理想選擇。
NanoWizard 4 XP兼容多種光學平臺,如蔡司(PALM/STORM,SIM)、徠卡(STED)、PicoQuant(STED)、尼康(SIM,STORM)和阿貝羅(STED)的平臺。
AFM掃描器的980nm激光允許同時使用光學顯微鏡和聚焦穩定系統,這對長期實驗至關重要,并避免了與熒光或光譜測量的沖突。
A549活細胞在37℃培養基中STED和AFM成像。[1] 用硅羅丹明標記的微管的STED與AFM形貌圖疊加。[2] 在240pN成像力下的AFM QI形貌圖像(高度范圍3.5μm)。[3] 相應的QI楊氏模量圖像(z范圍100kPa)。
圖片顯示了在帶有Airyscan的Zeiss LSM 880共聚焦顯微鏡上的NanoWizard 4 XP [1],帶有用于組織或其他大型樣品如器官的直立熒光顯微鏡(UFM)套件[2],帶有用于高NA光學的BioMAT工作站和Zeiss Axio Imager[3],帶有TopviewOptics[4]以及在帶有PicoQuant MicroTime 200 STED的奧林巴斯[5]上。
分子、細胞和組織的杰出定量數據
先進的QI?以真實的力曲線為基礎,為從單分子到活細胞的應用提供了令人震驚的速度和分辨率。定量數據可以精確快速地分析力學或生物化學的相互作用,例如結合點的定位,直接疊加熒光標記和分子識別成像的三維形貌。先進的批處理選項包括用于模量擬合的多種模型,并可通過接觸點成像(CPI)揭示零力時的表面形貌。
圖片顯示了使用CellHesion模塊進行的單細胞力譜測量,Z范圍增加到100微米,顯示了單個A549細胞從纖連蛋白(FN)和牛血清白蛋白(BSA)涂層培養皿中的分離力曲線。請注意,細胞從纖維蛋白上分離的結果是一個非常大的拉動范圍,77 μm。
用CellHesion模塊做單分子力譜測量
[1]-[2] 用HybridStage繪制非癌性人類子宮頸組織的剛度圖。覆蓋于熒光標記(Hoechst)圖中選中區域的復合楊氏模量圖,尺寸為1000μm×800μm,由5×4單獨區域組成。[3] 右圖給出了圖2中選中的單個區域200μm×200 μm3D形貌圖。樣品由德國萊比錫大學T. Fuhs博士和J.A. K?s教授提供。
主要特點
具有快速掃描選項,最 高可達每秒150行,可用于跟蹤動態過程
現在已經標配Bruker獨有的PeakForce Tapping技術
大掃描范圍,100 × 100 × 15 μm3,且在倒置顯微鏡上具有原子晶格分辨率
全新的基于工作流程的用戶界面,符合人體工程學設計,易于操作
新增Tiling拼接功能,可與HybridStage一起自動映射大樣品區域
增強的DirectOverlay 2模式用于精 準與顯微鏡關聯
全新的Vortis 2控制器,具有高速低噪音DAC和尖 端的位置傳感器讀取技術
高的靈活性和可升級性,擁有廣泛的模式和配件
在Zeiss Axio Observer上的NanoWizard 4 XP生物型原子力顯微鏡,具有新的用戶界面和平板電腦控制
NanoWizard 4 XP 生物型型原子力顯微鏡數據展示庫
Bruker的生物原子力顯微鏡使得生命科學和生物物理學領域的研究人員能夠在細胞力學和黏附、力學生物學、細胞間和細胞表面相互作用、細胞動力學以及細胞形態學等領域進行深入研究。我們收集了一些展示這些應用的圖像庫。
報價:面議
已咨詢1215次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1023次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢650次顯微鏡
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已咨詢1221次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
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已咨詢1222次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
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已咨詢1276次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢5389次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢5551次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統,專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規SEM/FIB兼容,