產品介紹:
NanoWizard? V BioScience
NanoWizard?V完 美結合了大掃描范圍內的高時空分辨率成像,機動靈活的實驗設計,以及與高端光學顯微鏡系統無縫契合等特點。自動化的實驗設置,校準,以及參數調節為長時間的自調整實驗帶來更多的可能。
了解第五代NanoWizard NanoScience AFM
NanoWizard V有望大大促進我們對動態細胞過程和分子機制的理解。它的PeakForce-QI模式實現了快速和靈活的定量納米力學測量--極大地擴展了原子力顯微鏡的功能,而它的自動化、遠程控制和快速掃描能力為復雜實驗提供了高通量、高性能的成像。
NanoWizard V具有新穎的掃描管和傳感器技術以及先進的控制軟件,包括一個直觀的、基于工作流程的圖形用戶界面(GUI),以確保真正的、易于使用的AFM操作。
· 無與倫比的易用性
· 可以研究動力學的快速掃描,提升產出
· 自動化、高像素密度測繪和成像
來自擁有超過25年開發生物型原子力經驗的先驅者
被全 球1000多個JPK/Bruker生物原子力顯微鏡客戶認可
被8500多篇具有生物學意義的出版物所證明
用于高分辨率成像和定制應用的專門探針開發支持
為新的科學發現鋪平道路
PeakForce-QI, PeakForce Tapping?, PeakForce QNM?, QI
單分子力譜(SMFS)
單細胞力譜(SCFS)
與先進光學顯微鏡結合的DirectOverlay 2功能
新一代軟件V8
具備最 新的ExperimentPlanner以及ExperimentControl
用于高NA光學和AFM、環境控制等方面的配件
最 新的技術,最 大的效率
最 高性能的生物型AFM
NanoWizard V具有增強的、基于工作流程的設計,在新的SPM V8軟件中具有直觀的用戶指導,使初學者和專家都能獲得最高質量、可重復的數據。該系統的高度自動化提高了生產力,并使產量最 大化。最 先進的分析和批處理程序確保科學的準確性和統計數據的可靠性。
自適應的智能掃描程序使掃描速度提高到400行/秒
最 低噪音的掃描儀和檢測系統確保了高分辨率的數據和倒置光學顯微鏡上無與倫比的性能
PeakForce-QI是PeakForce Tapping和QI模式的共生體,為高度精細的樣品提供最快、最 先進的力控制。
在倒置顯微鏡上對大樣品進行最快速的自動原子力顯微鏡測試
利用布魯克公司的嵌套掃描器和最新的反饋技術實現動態可視化
布魯克公司成熟的DirectDrive提高了探針激發的穩定性
在大的掃描范圍內提供更快的掃描速度
生產力的提高和測試通量最 大化獲得更加完善統計數據
智能優化程序提供定量納米力學
最直觀的生物型原子力顯微鏡操作
基本的易于使用的特點
用戶管理,適合多用戶
自動設置和工作流程
一鍵式懸臂校準
一鍵式光學圖像校準
為AFM設計帶有拼接功能的擴展光學視場
長期的、無人值守的實驗程序
遠程操作能力
優化的參數和收藏夾存儲
直觀的數據處理程序的整合
40Hz線掃描速度下利用輕敲模式在緩沖液中獲得的脂質膜上的Annexin 5蛋白的圖像,顯示了二維蜂窩狀結構中中心三聚體的占據密度。掃描尺寸1.3μm×1.3μm,高度范圍8.0nm。
在Fast tapping模式下170Hz線速下獲得的緩沖液中脂質膜上的Annexin 5蛋白圖像。箭頭揭示了12秒(8幀)后二維晶體結構中被溶液中的中心三聚體占據過程。掃描尺寸96 nm x 96 nm,高度范圍1.0 nm。
理解生物學中的力
通過為正確的實驗提供正確的模型,布魯克公司為復雜的科學問題提供簡單的解決方案。自動化的測量程序使研究人員能夠專注于重要的事情--他們的研究,并質疑為什么而不是如何做。
研究單分子、活細胞和組織樣品
研究原生條件下的大起伏和精細的軟的樣品
對粘彈性能和粘附過程詳細理解
通過自動對準、HybridStage或電動臺、ExperimentPlanner、ExperimentControl和GUI功能實現最 高水平的自動化,且具備高速信號處理和最 低噪音水平。
采用最 新的壓電和傳感器技術,實現最 快的納米力學成像
簡單、精確的批量處理
真正的、實時的力曲線監測
37℃下細胞培養基中獲得活體NIH-3T3成纖維細胞(小鼠)細胞的PeakForce-QI和熒光相關聯的數據集。藍色AFM圖: 活的成纖維細胞的PeakForce-QI圖像,頂部的高度范圍2.35微米,底部圖的高度范圍3.5微米。紅色AFM圖: 從PeakForce-QI提取的楊氏模量圖像,頂部圖片模量范圍5.2-13.1千帕,底部圖像模量0-30千帕,頂部圖片掃描尺寸10微米×10微米,底部圖片掃描范圍23微米×23微米。概述: 用CellMask?綠色肌動蛋白追蹤染色劑標記的成纖維細胞和楊氏模量圖像的疊加,樣品由柏林自由大學的Wedepohl博士提供(德國)。
定量數據, 智能分析
自動化力譜儀重裝上陣
單分子力譜(SMFS)和單細胞力譜(SCFS)的先驅者現在為您帶來更多的靈活性、更高的精度和更大的通量。
現在內置成熟的ForceRobot技術
布魯克公司的直觀和強大的RampDesigner
自動校準
分子識別成像
最敏感的力控制和保護針尖功能
強大的數據切片
在不同的作用力下靈活地成像
專有的接觸點成像
批量處理過的任何通道的圖像均可堆棧輸出
從容應對從單分子到細胞和組織的復雜實驗,
優化的環境控制選項
用RampDesigner進行全面的納米力學研究
用ExperimentPlanner進行復雜的實驗程序
在長期、無人值守的實驗中整合多種模式
單一GB1蛋白展開的力譜,可以在長時間(約16小時內)自動地獲得了約54,000條曲線。插圖:長度差異等高線圖。樣品由中國南京Cao教授提供。
關聯顯微鏡技術的新定義
與先進的光學顯微鏡集合的領先的生物型AFM
與先進的光學技術完 美結合
超分辨率光學(STED,FLIM,...)。
用于組織、植入物等
DirectOverlay 2/MIRO
一鍵式光學圖像導入
980納米激光選項
DirectTiling,用于更大規模的效率
縫合
多重掃描
多個光學、外部的和AFM通道的無縫整合
配備蔡司LSM 800的NanoWizard V(由柏林自由大學和漢諾威萊布尼茨大學Marie Weinhart教授提供),配備用于高數值孔徑光學器件的BioMAT工作站和蔡司Axio成像儀,以及奧林巴斯IX83上的Picoquant MicroTime 200 STED
光學模式組合
明場
DIC
相位或調制對比度
共聚焦顯微鏡
旋轉盤
TIRF 和 IRM
FRET, FLIM, FRAP, FCS
鈣離子成像
超分辨光譜(STED、PALM/STORM、SIM)
宏觀鏡組合
帶OT-AFM的光鑷
無與倫比的設計靈活性
NanoWizard V BioAFM可以與BSL設施中的病原體和傳染因子直接接觸。從樣品制備、裝載和處置到運行實驗的每個步驟都可以直接在生物安全實驗室中進行。
· 適用于處理天然病原體和生物危害性材料
· 無需“額外準備”步驟
· 達到 BSL-3 合規性( 符合實驗室安全規定)
探索用于多功能實驗設置和環境控制的各種附件 accessories
與 FluidFM 技術的無縫結合可實現一系列新穎的實驗設計和應用 FluidFM technology
使用嵌套掃描器技術在 EDTA 緩沖器中以 200 Hz 線速對DMPC 紋波相形成成像。隨溫度的升高/降低,該序列顯示了兩種不同的紋波相形成。掃描尺寸 300 nm × 300 nm,z 范圍 5 度。
在BioCell中不同的溫度下,用QI進行分析用于細胞-框架工程相互作用的P(NIPAM-NEAM)水凝膠微粒子。圖片展示了顆粒上的QI形貌和楊氏模量圖以及一系列的光學相差圖像。
生命科學AFM數據圖片展
Bruker的生物型原子力顯微鏡使得生命科學和生物物理學領域的研究人員能夠在細胞力學和黏附、力學生物學、細胞間和細胞表面相互作用、細胞動力學以及細胞形態學等領域進行深入研究。我們收集了一些展示這些應用的圖像庫。
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Operating Modes
標準操作模式
現在有了PeakForce-QI,包括PeakForce Tapping, QI 和 PeakForce QNM
包括嵌套掃描管技術的快速的PeakForce Tapping和QI
帶有側向力顯微鏡(LFM)的接觸模式
帶有PhaseImaging?的Tapping模式
用于設計特定測量工作流程的ExperimentPlanner
靜態和動態力譜分析
先進的力成像
可選模式
先進的光譜學模式,如各種力鉗模式或ramp設計
快速掃描選項,線率高達200赫茲
QI高級模式可獲得定量數據,是軟性樣品的完 美選擇
ScanAsyst在PeakForce Tapping和PeakForce-QI中自動調整增益和設定值
先進的交流模式,如帶Q值控制和主動增益控制的FM和PM
CellMech包中的微流變學
開爾文探針顯微鏡
MFM和EFM
導電AFM
STM
電學譜學模式
高電壓下的壓電力顯微鏡
帶溫度控制和光學顯微鏡的電化學和掃描電化學
納米光刻和納米操作
納米壓痕
掃描熱原子力顯微鏡
來自Cytosurge的FluidFM?解決方案
用于遠程實驗控制的ExperimentControl功能
用于AFM和光學顯微鏡組合的DirectOverlay 2
可用于CellHesion?、TAO?和HybridStage?模塊的額外的XY或Z樣品移動平臺
報價:面議
已咨詢1276次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1023次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢1222次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1221次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢598次掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM)
報價:面議
已咨詢5551次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1308次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1214次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統,專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規SEM/FIB兼容,