產品介紹:
Dimension EDGE PSS
布魯克的Dimension Edge? PSS原子力顯微鏡與AutoMET?軟件是LED基板和外延片制造商最理想的納米計量和納米檢測系統。作為Dimension EDGE AFM 平臺的延伸,Edge PSS 融合了 Dimension AFM 系統廣為人知的掃描技術和超高分辨率,同時也為半導體基片生產提供了測量的解決方案。
PSS 分析的最 高分辨率
隨著藍寶石基板 PSS結構 的間距趨近 2 微米,傳統的共聚焦技術失去了提供有價值的工藝測量所需的分辨率。Dimension Edge PSS 原子力顯微鏡 (AFM) 擁有亞納米分辨率和一次測量多達 9 個 2 英寸晶圓(或單個 4 或 6 英寸晶圓)的能力,能夠解決測量中的高分辨、高效的需求,提供了PSS 制造過程所需要進行的大量檢測數據。
除了Dimension EDGE PSS 內置的特定 PSS 測量功能外,該系統還集成了 布魯克Dimension 顯微鏡系列著名的掃描技術,適用于外延粗糙度測量中高分辨率、低噪聲的要求,包括了輕敲模式、接觸模式、相位測量等標準的AFM模式以及AFM專有的抬高模式。
平頂圖案: 藍寶石基板的 3D AFM 圖像。
高級 PSS 計量能力
Dimension EDGE PSS 系統能夠對 PSS 結構進行深入分析。
高度、寬度和間距
側壁角度和特征輪廓
不對稱識別和測量
污染識別
轉彎識別和轉彎角度
平頂識別
業界領先的AutoMET軟件
Dimension Edge PSS 系統集成了專門設計用于滿足LED制造要求的AutoMET軟件。 該軟件具有兩種不同級別的操作模式:
操作員級別:簡單的用戶界面,一步步指導用戶完成探針更換,激光對齊,Tune 探針和確認探針安裝的步驟。 一鍵完成多達9個晶圓“”合格/失敗“”的分類測試結果的自動輸出,
工程師級別:受密碼保護的用戶界面, 工程師可以訪問所有關鍵的AFM參數。 在這種模式下,制程工程師可以輕松設置所有必需的“”通過/失敗“檢測”標準。
Dimension Edge PSS通過輕松的激光對準、自動生成報告的方式提高了系統的可操作性,使用戶感受到有史以來最 佳的AFM用戶體驗。
報價:面議
已咨詢1233次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1511次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢5110次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:¥1790000
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報價:¥1000000
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報價:面議
已咨詢1277次原子力顯微鏡
報價:面議
已咨詢5122次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1245次原子力顯微鏡
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統,專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規SEM/FIB兼容,