德國布魯克 Dimension HPI原子力顯微鏡
德國布魯克 Dimension FastScan Bio 原子力顯微鏡
德國布魯克 ATOMIC FORCE MICROSCOPE NanoWizard Sense+
德國布魯克 JPK ForceRobot 生物型原子力顯微鏡
德國布魯克 原子力顯微鏡 NanoWizard ULTRA Speed 2
德國布魯克 JPK CellHesion 300 生物型原子力顯微鏡
產(chǎn)品介紹：
Dimension HPI
Dimension HPI 系統(tǒng)專為大批量、大生產(chǎn)環(huán)境而設計，支持多種 AFM 模式進行自動化測量，具有簡單易用性，并能實現(xiàn)在質量控制、質量保證和失效分析中的最 低檢測成本。Dimension HPI 使用接觸、輕敲和 峰值力輕敲模式技術，使用戶能夠精確控制探針和樣品的相互作用力，從而延長探針壽命，并且在數(shù)千次測量中保持測量的準確性。
廣泛的測量范圍
從傳統(tǒng)的AFM掃描模式到獨有的 PeakForce 峰值力模式，Dimension HPI 提供靈活的選項，可滿足各種樣品在特定制造工程中對測量的需求，而不受通常 AFM 用于研究時的設置復雜性的限制。
快速納米電氣計量
快速掃描技術和導電力顯微鏡 （CAFM）結合可以在高掃描速率下測量納米級的電流，顯著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力輕敲模式下的磁力顯微鏡技術，可以在不影響磁力顯微鏡精度的情況下將掃描速度增大10倍。PeakForce KPFM?提供最 高的空間分辨率和最精確的表面電位測量。PeakForceTUNA 提供靈敏的導電性測量。
精確的納米力學性能表征
布魯克獨特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume? 模式可以精確測量材料的力學性能 - 模量、剛度、粘附性、耗散和形變量，同時對樣品形貌和電學特性進行成像。PeakForce QNM 支持對聚合物、薄膜和納米缺陷進行非破壞性測量，這些缺陷無法通過TEM或SEM技術進行測量。
報價：面議
已咨詢1219次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡）
報價：￥6960000
已咨詢53次SPM/AFM 掃描探針原子力顯
報價：面議
已咨詢1277次原子力顯微鏡
報價：面議
已咨詢1511次原子力顯微鏡
報價：面議
已咨詢5122次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡）
報價：面議
已咨詢1245次原子力顯微鏡
報價：面議
已咨詢2079次
報價：面議
已咨詢1605次
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量，晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的，對于先進的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說，識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動缺陷識別，通過與各種光學儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統(tǒng)，專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商，擁有專業(yè)的AFM設計概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側視圖，結合垂直的馬達控制系統(tǒng)，使預先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優(yōu)點，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用，與常規(guī)SEM/FIB兼容，
營業(yè)執(zhí)照已審核
分享
收藏
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號