產品介紹:
研究人員不斷探索納米機械的邊界,開發新的模型描述材料的近表行為。同樣,產品制造商不斷尋找改進驗證生產工藝和產品材料。這兩種情況都需要準確表征納米性能。布魯克NanoForce?納米機械性能測試系統提供zui新的納米機械性能表征技術,非凡的納米機械性能測量精度和原子力顯微鏡成像,為納米材料研究提供有力的支持。
布魯克NanoForceTM系統標配超低負荷能力、動態測試和原子力顯微鏡成像,并提供閉環控制以實現實驗參數的zui優化。NanoForceTM提供真正的納米機械性能測試能力,遠超一般納米壓痕技術,促進材料科學的新發現:
幾十年的優秀設計構成以用戶為zhong心和高性能的基礎
創新的硬件和軟件確保高準確的測試
zhuo越的系統設計實時控制測試過程中所有的環境變量
靈活的內置模塊構成一套完整的測試系統,無需其它附件
友好的軟件和直觀的界面提供便捷的數據訪問
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已咨詢5145次納米壓痕儀、劃痕儀
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已咨詢2346次報價:面議
已咨詢96次表面分析測量
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已咨詢5041次納米壓痕儀、劃痕儀
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已咨詢1266次納米壓痕儀
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已咨詢4973次納米壓痕儀、劃痕儀
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已咨詢783次Instron拉力試驗機
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已咨詢1077次Instron拉力試驗機
提供Z廣泛的參數和工況模擬靈活性,用于精確和全面表征CMP過程及相關耗材
用于研究和生產的自校準、全自動化解決方案
落地式NPFLEX-1000白光干涉(WLI)測量系統為精密制造業帶來了前所未有的靈活性、測量能力和性能,從而理解和控制制造過程。該系統采用開放式龍門架設計,具有300mm的樣品臺與目鏡間距,因此能夠在各種形狀和尺寸的樣品上輕松測量微觀及宏觀特征。全新的一鍵高級查找表面? 通過結合自動對焦和自動照明,消除了在每次測量之前手動聚焦表面的需要,從而提升用戶體驗,并減少測量時間。結合自適應USI測量模式和引導、簡化的VisionXpress ? 界面,NPFLEX-1000為汽車、醫療器械和增材制造等生產領域提供了毫不妥協的計量方法.
落地式ContourX-1000 白光干涉(WLI)系統集成了Bruker 在硬件和軟件上的Z新技術, 可 用于全自動三維表面紋理和粗糙度測量。全新的一鍵式高級尋找表面 (Advanced Find Surface ?)功能結合自動聚焦和自動照明功能,無需每次測量前手動查找樣品表面,極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。結合自適應測量模式 USI 和簡 潔的引導式 VisionXpress ?操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人員,甚至多用戶高負荷的生產設備下都可提供不打折扣的精確測量。
ContourX-100光學輪廓儀以Z佳的價格為準確和可重復的非接觸式表面計量樹立了新的標桿。 該小尺寸系統采用流線型設計,結合了數十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創新,可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統具有業界Z先進的友好用戶界面,可直觀訪問多種預編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學應用分析。
ContourX-200光學輪廓儀完美融合了高級表征、可定 制選項和易用性,可提供一流的快速、準確和可重復的 非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統,配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D/3D高分辨率測量功能。
ContourX-500光學輪廓儀是世界上Z全面的快速,非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的自動傾斜光學測頭,可以完全編程并自動測試一定角度范圍內的表面特征,并能Z大程度地減少跟蹤誤差。
逼真成像與可信測量數據的結合 簡易直觀的操作界面提供良好的用戶體驗 更快速地解決復雜研究和生產要求下的各種挑戰