產品介紹:
ContourX-500 三維光學輪廓儀
ContourX-500光學輪廓儀是世界上最全面的快速,非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的自動傾斜光學測頭,可以完全編程并自動測試一定角度范圍內的表面特征,并能最 大程度地減少跟蹤誤差。ContourX-500滿足計量要求,具有無與倫比Z軸分辨率和準確性,并在更小的占地面積內提供了布魯克的白光干涉儀(WLI)落地式型號所有業界公認的優點。利用業界最 先進的用戶界面,ContourX-500可以直觀地調用多種預設好的濾鏡和分析工具。借助其新的USI通用掃描模式,本產品可以輕松地針對各種復雜應用場景定制分析方法。這些場景涵蓋了從精密加工表面和半導體工藝制程,到眼科和 MEMS器件的R&D表征。
最 先進的臺式三維形貌計量設備
與放大倍率無關的業界最 好Z軸分辨率
高級自動化功能,包含帶編碼器的XY軸樣品臺、自動測頭傾斜和自動亮度調整
更緊湊的氣動減震臺設計
卓 越的測量與分析功能
易于使用的界面,可快速準確地獲得結果
廣泛的自動化功能,可量身定制測量和分析程序
最廣泛的濾鏡和分析工具
滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告
高級自動化功能
布魯克專有的自動傾斜測頭為生產和監測提供了無與倫比的靈活性。通過將自動傾斜測頭與光學裝置耦合在顯微鏡上,布魯克實現了測試位置不受傾斜角度影響的測量。這樣可以減少操作員的干預,提供最 大的可重復性。進一步結合自動樣品臺和物鏡塔臺,使得ContourX-500非常適合“按需測量”工業要求,且占用空間小。
無與倫比的分析與回報
通過上千項自定義分析功能和簡潔而強大的VisionXpress? 和Vision64?用戶界面,ContourX-500為提高實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。這種獨特的硬件和軟件組合提供了 對高可重復性和高通量計量學測量的便捷訪問,超過了同類 計量設備的能力。
報價:面議
已咨詢1240次輪廓儀
報價:¥500000
已咨詢185次輪廓儀
報價:面議
已咨詢1389次輪廓儀/白光干涉儀
報價:面議
已咨詢557次輪廓儀
報價:面議
已咨詢1431次輪廓儀/白光干涉儀
報價:¥500000
已咨詢311次輪廓儀
報價:¥500000
已咨詢338次輪廓儀
報價:面議
已咨詢1338次輪廓儀
晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數自動檢測機PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數的自動晶圓形貌檢測及分選機。
晶圓幾何形貌及參數紅外干涉自動檢測機使用高精度高速紅外干涉點傳感器實現晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現的尺寸與結構測量內容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 測試)。
專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計,如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡
ContourX-500 具有卓越的 Z 軸分辨率和準確度,并具備布魯克落地式白光干涉(WLI)儀器廣受業界認可的所有優勢,而占地面積更小
ContourX-200 光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同類產品中*快、*準確、可重復性*高的非接觸式三維表面計量系統。
具備最高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。