產品介紹:
ContourX-1000落地式白光干涉儀(WLI)使獲得高質量的3D表面紋理和粗糙度測量變得簡單快捷。該計量系統融合了30多年的創新和我們最 新的專有軟件和技術,提供了Bruker的光學輪廓儀所熟知的快速得出結果的時間和可重復性,提高了吞吐量,甚至更容易操作。
憑借全自動化功能、直觀的用戶體驗以及簡化的測量設置和分析配方,ContourX-1000可由任何操作員在幾乎任何表面上提供最 準確和精確的計量,即使在多用戶大批量生產設施中也是如此。
專有硬件和系統功能可在任何表面上提供最準確的表面紋理和粗糙度測量。
自校準激光器確保可用于開發或生產應用的量具計量。
操作員友好型軟件無論操作員的經驗水平如何,都能自動進行測量和分析,實現無損計量。
面向行業的下一代3D表面測量解決方案
ContourX-1000配備了Bruker獨有的干涉測量技術,能夠完全自動化,擴展了我們ContourX輪廓測量系統無與倫比的測量和成像能力,幾乎涵蓋了任何開發和生產應用。
只有ContourX-1000:
提供快速、通用的生產車間計量,具有專用的尖 端/傾斜頭、雙光源和先進的自動化;
通過自校準激光器和集成隔振,確保極高的精度和可靠性;并將我們最方便用戶的測量和分析軟件與指導、簡化的例程和配方集成在一起。
特點
由任何操作員在幾乎任何表面上進行最 精確的計量
ContourX-1000現在比以往任何時候都更容易、更快地獲得高質量的3D表面紋理和粗糙度測量。
Laser Focus World訪問了SPIE Photonics West 2023,討論ContourX-1000的下一代設計。觀看視頻聚光燈或聯系我們,了解更多關于這種用于研究和生產的自校準、全自動解決方案的信息。
最 新光學輪廓硬件進展
ContourX-1000配備了各種獨特創新的硬件。它的下一代設計能夠為幾乎任何開發和生產應用實現快速優化和最 大再現性,即使在高通量和嘈雜的環境中也是如此。
主要功能包括:
尖 端/傾斜云臺專利;
專有的雙LED光源;
自動化炮塔和舞臺;
晶圓卡盤的選擇;
專有內部激光參考;以及集成式隔振。
強大的自動化測量和分析
ContourX-1000的集成、操作員友好的功能和先進的生產界面允許在用戶干預最 小的情況下快速收集高質量、可測量的測量值。這消除了手動設置、采集和分析所固有的復雜性、延長結果時間和操作員不一致性。
主要功能包括:
自動化測量和分析配方;
新的一鍵高級查找表面自動聚焦和自動照明;
采用自適應USI測量模式自動確定最 佳測量參數;
引導式VisionXpress界面;
圖案自動對齊;
自動強度、自動保存、自動縫合等等。
帶有晶圓圖的自動化圖形用戶界面(GUI)
報價:面議
已咨詢1228次輪廓儀
報價:面議
已咨詢1383次輪廓儀
報價:面議
已咨詢5373次輪廓儀
報價:面議
已咨詢7349次輪廓儀
報價:面議
已咨詢2827次報價:面議
已咨詢6144次摩擦磨損試驗機
報價:面議
已咨詢5551次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢355次紅外光譜儀
晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;
晶圓幾何形貌及參數自動檢測機PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等參數的自動晶圓形貌檢測及分選機。
晶圓幾何形貌及參數紅外干涉自動檢測機使用高精度高速紅外干涉點傳感器實現晶圓的非接觸式測量,結合高精度運動模組及晶圓機械手可實現晶圓形貌的亞微米級精度的測量,該系統適用于晶圓多種材質的晶圓,包括藍寶石、GaAs、GaN、SiC 以及 Si 等;可以實現的尺寸與結構測量內容包括: 包括 TTV, Bow, Warp, Thickness , TIR, Sag, LTV(Fullmap 測試)。
專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計,如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡
ContourX-500 具有卓越的 Z 軸分辨率和準確度,并具備布魯克落地式白光干涉(WLI)儀器廣受業界認可的所有優勢,而占地面積更小
ContourX-200 光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同類產品中*快、*準確、可重復性*高的非接觸式三維表面計量系統。
具備最高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。