產品介紹:
NanoRacer? 高速原子力顯微鏡
NanoRacer?高速原子力顯微鏡標志著量化成像能力的一次重大飛躍。在納米分辨率下對動態生物過程進行實時的可視化從未如今天這般簡單。NanoRacer為生命科學應用打開了一個新世界,充滿令人興奮的全新可能,使研究人員能夠以一種迄今為止不可能的方式深入理解復雜的生物系統和分子機制。
實時可視化動態生物過程,分辨率達納米級。理解復雜的生物系統和分子動力學。
高速AFM的新篇章:分子動力學實時觀測,每秒50幀和真正的每秒5000行
DNA折紙納米結構包含在云母上的5個生物素結合位點,通過在具有鏈環的內部以每秒50幀和5000行/秒的速度成像在液體中存在鏈環.
NanoRacer為生命科學應用打開了新的激動人心的可能性,使研究人員能夠以前所未有的方式深入了解復雜的生物系統和分子機制:
l 單分子結合行為
l 二維蛋白質組裝中的動態過程
l 酶活性監測
l 蛋白質結構的組裝和解離過程
l DNA折紙組裝
l 蛋白質/蛋白質相互作用
l 馬達蛋白和膜運輸動力學
l 病毒和細菌形態和動態過程
云母上包含5個生物素結合位點的DNA折紙納米結構,于具有鏈霉親和素存在的流體中在閉環下以每秒50幀和每秒5000條線進行成像
“許多生物分子中仍然隱藏著許多未被探索的秘密,為了揭示它們的功能活動中的未知之處,需要直接觀察單個分子。NanoRacer是商業上最快的高速AFM,可以實時直接觀察分子。它集成了許多創新的想法,易于操作和高性能,我最 大的愿望是許多研究人員將使用NanoRacer實現他們的目標并取得令人興奮的發現。”
日本金澤大學納米生命科學研究所(WPI-NanoLSI)Toshio Ando教授
出色的分辨率,卓 越的穩定性,令人矚目的準確性
成像原子缺陷和亞分子分辨率現在已成為常規。NanoRacer擁有商業AFM系統中最 低的噪聲水平,這要歸功于每個軸的高精度電子和增強精度定位傳感器。
NanoRacer反映了Bruker的BioAFM團隊在將技術進步與穩定性、靈敏度和易用性相結合方面的開創性工作。
在液體中拍攝的方解石晶體臺階邊的原子分辨率,3D拓撲圖為15×9nm2 [1],縮放圖為4×4nm2 [2]
小型懸臂和最 低力量,以減少樣品損傷
紅外激光光熱激發選項,可進行清潔的懸臂驅動,易于設置,最 小化對脆弱樣品的干擾
先進算法支持掃描控制和反饋
最 小化力漂移,以進行長期實驗
最 高帶寬數字電子,以最 低噪音實現最 佳性能
頂 尖高速功率放大器,實現完 美的掃描驅動
在所有軸上進行閉環掃描,以最 低水平噪聲,實現最 高精度。
在閉環的云母加PLO上,于液體中拍攝到的單個DNA分子。序列[4] + [5]被以50幀/秒的速度拍攝。
發現全新的用戶體驗-一個為方便而設計的完整系統
輕松的樣品和探針加載
可搬運的樣品載體,方便在工作臺上進行樣品制備
幾分鐘內完成探針更換
無需校準,采用閉環掃描器設計
輕松導航通過集成攝像頭以查找樣品上感興趣的區域
通過直接注射進行流體交換
全新設計的三口液體池用于光熱激發
NanoRacer標志著高速AFM的新篇章,將復雜、耗時的操作歸于過去。該設計考慮到用戶需求,因此具有堅固可靠的設計和許多新功能,即使是對AFM新手來說,也很容易使用。
所有組件都設計成方便處理,從樣品準備到完全電動和自動光學對準。簡化的處理使數據收集變得容易,結果也很快。短的數據收集時間對于獲得活性單分子樣品的動態結果至關重要。
自動化懸臂對準
優化漂移補償
自動光熱激光對準選項
內置自動對焦相機
自動校準懸臂彈簧常數
Key Features
最 高成像速度可達50幀,每秒真正的5000行/秒,分辨率出色
直觀易用的V7軟件
新開發的高速頭和掃描單元
自動化懸臂對準
堅固的同心設計,穩定性極高
針對小型和中型懸臂進行優化
尖 端的電子學技術
可選配Bruker獨有的PeakForce Tapping技術
高速成像數據展示庫
Bruker的生物原子力顯微鏡可以幫助生命科學和生物物理學研究人員在細胞力學和粘附、力學生物學、細胞-細胞和細胞-表面相互作用、細胞動力學和細胞形態學等領域深入探索。我們收集了一些展示這些應用的圖像庫。
操作模式
標準操作模式
成像模式
帶有相位成像的輕敲模式
具有橫向力顯微鏡(LFM)的接觸模式
力學測量
靜態和動態光譜學
先進的力映射
可選模式
PeakForce?輕敲成像
高級交流模式,如具有Q控制和主動增益控制的FM和PM
更高諧波成像
納米操縱
ExperimentPlanner?設計特定的測量工作流程
RampDesigner?用于定制設計夾持和斜坡實驗
ExperimentControl?功能用于遠程實驗控制
報價:面議
已咨詢1276次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢500次顯微鏡/掃描電鏡
報價:面議
已咨詢5551次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:¥500000
已咨詢270次SPM/AFM 掃描探針原子力顯
報價:面議
已咨詢1847次輪廓儀/粗糙度儀
報價:面議
已咨詢5122次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1327次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
報價:面議
已咨詢1227次掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復性。與一般環境或干燥N2條件相比,高真空測量具有準確度好、可重復性好及針尖和樣本損傷低等優點。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量,晶圓的表面粗糙度對于確定半導體器件的性能是至關重要的,對于先進的元件制造商,芯片制造商和晶圓供應商都要求對晶圓商超平坦表面進行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統,專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計。
CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規SEM/FIB兼容,