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• 2025-08-29 10:30發布了行業資訊

  2025年納米表面量測技術研討會（成都站）暨原子力顯微鏡（AFM）基礎培訓班

  布魯克納米表面量測部（BNSM）將在09月08日至12日與西南石油大學分析測試中心聯合舉辦2025年納米表面量測技術研討會（成都站）暨原子力顯微鏡（AFM）基礎培訓班。其中09月08日上午為納米表面測量技術研討會。

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• 2025-08-14 09:45發布了技術文章

  X射線倒易空間圖譜和光學散射測量在Fin結構中對應力和間距的測量應用

  散射測量中的光衍射是眾所周知的，而單晶硅Fin陣列區域的X射線衍射也能提供Fin結構的重要信息。

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• 2025-08-13 10:45發布了行業資訊

  布魯克工業應用技術研討會

  布魯克將于2025年8月25-26日在上海舉辦工業應用主題技術研討會。

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• 2025-08-11 09:45發布了技術文章

  Nature Structural &amp Molecular Biology: 利用光鑷技術研究黏連蛋白環的機械解離過程

  本研究旨在通過單分子力測量技術，探究黏連蛋白與DNA之間的機械相互作用，以及黏連蛋白環在抵抗外力時的穩定性，從而揭示黏連蛋白在姐妹染色單體黏連和有絲分裂過程中的作用機制。

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• 2025-08-07 09:45發布了技術文章

  Friction - 鈷拋光中機械、化學與電場因素的單獨及協同作用機制

  本文采用了電化學機械拋光（ECMP）技術，這是一種結合了機械、電場和化學三種作用的表面加工方法。

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• 2025-08-05 09:45發布了技術文章

  Nature Communications: 硅納米器件中熱電子增強熱電效應的直接觀測

  針對納米尺度下半導體器件的熱電特性，復旦大學Huanyi Xue等研究人員，采用Bruker Dimension Icon原子力顯微鏡的掃描熱顯微模式（SThM）， 研究了硅納米器件中的熱電效應。

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• 2025-08-01 14:15發布了技術文章

  Nature : 葉片吸收促進植物對微塑料的富集

  近日，南開大學環境科學與工程學院聯合其合作研究組，通過質譜檢測等分析手段發現，植物葉片中普遍存在聚對苯二甲酸乙二醇酯（PET）和聚苯乙烯（PS）及低聚物，且其含量會隨著大氣中微塑料濃度升高以及葉片生長時間延長而增加。

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• 2025-07-16 09:30發布了技術文章

  Applied Physics Letters: 利用局部接觸電勢探測剖析工作中 SiC 功率 MOSFET 的內部電場分布

  近日，九峰山實驗室Mingsheng Fang等研究人員，采用Bruker Dimension Icon原子力顯微鏡，利用KPFM和SCM技術，詳細分析了SiC MOSFET在不同外部偏壓下的局部電勢分布.

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• 2025-07-14 16:00發布了技術文章

  EC-AFM揭示層狀雙氫氧化物的析氧反應活性與穩定性構效關系

  析氧反應（OER）是一個涉及四電子以及質子耦合的復雜反應，反應動力學緩慢，過電位高，因而高效OER催化劑的設計是提升與其相關器件效率（如空氣電池、燃料電池、電解水等）的關鍵。

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• 2025-06-27 10:45發布了行業資訊

  原子力顯微鏡模式手冊E-BOOK下載

  了解AFM的工作原理及最新的尖端特性和成像模式

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• 2025-06-27 10:15發布了行業資訊

  在AI強勁需求的推動下，布魯克在半導體先進封裝領域實現顯著增長

  馬薩諸塞州比勒里卡，2025年6月24日新聞 – 今日，布魯克公司（Bruker，納斯達克股票代碼：BRKR）傳來喜訊，公司已成功向一家行業領先的半導體制造商發貨并安裝了第15臺InSight WLI 三維光學量測系統。

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• 2025-06-26 09:45發布了技術文章

  Nature Communications：二維光電器件中的非對稱光操控

  同濟大學物理科學與工程學院王占山教授和程鑫彬教授團隊的江濤教授，聯合美國紐約城市大學Andrea Alù教授、中南大學的倪祥教授，提出了一種基于二維范德華材料的剪切極化激元調控策略。

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• 2025-06-25 14:30發布了行業資訊

  Nature Electron:原子力顯微鏡在界面原位表征及熱電性能方面的研究進展

  中國科學院化學研究所分子器件研究平臺近年來在基于原子力顯微鏡技術在界面原位表征及熱電性能研究方面取得一系列獨具特色的研究成果。

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• 2025-05-29 11:00發布了行業資訊

  ContourX-200 演示機促銷 – 30%折扣 #618 儀器設備促銷盛宴#

  適用于表面紋理測量的靈活臺式設備

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• 2025-05-27 09:45發布了技術文章

  原子力顯微鏡模式手冊E-BOOK下載

  了解AFM的工作原理及最新的尖端特性和成像模式

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• 2025-05-26 14:45發布了技術文章

  原子力顯微鏡在半導體失效分析（Failure Analysis）中的解決方案

  參與此次網絡研討會，您將深入了解以下內容：\x0d\x0a失效分析常用模式的應用與限制；\x0d\x0a硅基器件及其他材料的案例分享；\x0d\x0a關鍵量測中的實用技巧；\x0d\x0a

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